薄層掃描儀的兩大類型及應用
點擊次數：1802 更新時間：2019-04-24
薄層掃描儀是對薄層色譜進行定量檢測分析的儀器，當前市場上有兩類薄層色譜掃描儀：
傳統掃描儀
是一種全波長掃描儀，提供波長200-800nm范圍的可選波長，通過檢測樣品對光的吸收強弱確定物質含量。該掃描儀也能檢測254nm或365nm紫外照射產生的熒光強度，從而進行特異性檢測。
傳統掃描儀的掃描方式分為：單光束掃描、雙光束掃描和雙波長掃描。
單光束掃描：采用單一光束（即單一波長掃描），其結果就是上圖中一特定波長條件下的單條曲線。儀器結構簡單，但是基線不穩，實際中很少使用。
雙光束掃描：采用同一波長的兩個光束同步掃描，一個光束掃描樣品展開通道，另一個光束掃描樣品通道旁邊的空白區域，這樣就可扣除空白吸收，部分消除薄層板展開方向鋪板不均勻產生的誤差。但是無法消除垂至于展開方向鋪板不均勻產生的誤差。
雙波長掃描：兩個不同波長的光束交替掃描樣品展開的通道區域，波長選擇時，一個波長為樣品大吸收位置，另一是吸收極小值位置。如上圖所示，如檢測目標為3（則大吸收峰為290nm，極小值可選200nm、260nm或325nm）。這種方法可基本消除鋪板不均產生的誤差，因此掃描基線很穩定。
以上各種掃描方式中，根據光源大小（掃描精度）不同可分為直線掃描和鋸齒掃描。
直線掃描：用可以覆蓋樣品展開通道的寬光束一次性掃完整個展開通道，即在展開方向上（圖中橫坐標），每個點的數據只是一個掃描數據點。
鋸齒掃描：采用點狀光源，光點尺寸小于通道寬度，因此在展開方向移動到任何一點時，光源都要逐點沿樣品通道方向掃描，即形成“之”形（或鋸齒形掃描）。這樣，在展開方向上每一點的數據都是多個點掃描結果的累加值。鋸齒掃描的精度相對直線掃描明顯提高。
當前，在定量分析中，薄層掃描多采用雙波長鋸齒掃描。
分析誤差
薄層分析的誤差包括三個方面：點樣誤差、展開誤差、定位誤差和檢測誤差。
采用自動點樣器，誤差可控制在0.5%，熟練的分析人員用毛細管點樣，誤差小于1.0%，若用微量進樣器，誤差會大一些。
展開誤差來自鋪板的均勻性和樣品展開效果，若采用預制的薄層板，誤差會明顯降低，采用雙波長鋸齒掃描，也能有效降低展開誤差。
定位誤差值斑點的位置和大小判定，擴散、脫尾等易產生定位誤差。檢測誤差來自光源的穩定性、光檢測器的穩定性以及樣品對光吸收（或熒光產生）的線性度等方面。為減少這些誤差，需要非常精密的機電系統，這也直接導致產品高昂的價格。
通常情況下，薄層掃描分析的誤差在3%以下。
薄層數碼成像分析儀
薄層數碼成像分析技術是利用數碼成像設備獲得薄層板上各點的光強度信息，之后對獲得圖像進行分析的薄層分析技術。數碼成像設備包括兩種：照相機和掃描儀（由于數碼掃描儀采用逐行成像技術，為便于區分傳統薄層掃描儀的逐點掃描，將數碼掃描儀稱為逐行掃描儀）。
和傳統薄層掃描一樣，照相機或逐行掃描儀都具有光檢測系統，它們都是將光量線性轉化為電信號的元件。不同的是，照相機和逐行掃描儀可進一步將電信號轉換成電腦圖像，圖像中單個點（像素）的顏色深淺反映了光的強弱。
因此，薄層數碼成像更接近人眼觀察檢測，結果更直觀，因此非常適合鑒別，特別是中藥指紋圖譜的識別。
數碼成像儀不僅能完成普通白光照射下的成像分析，再裝配254nm或365nm紫外燈后，也可以檢測特異熒光，特異熒光檢測。
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